科研成果
一种测量扫描探针显微镜导电针尖的特征电容的方法
| 专利名称: |
一种测量扫描探针显微镜导电针尖的特征电容的方法
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| 英文名称: |
一种测量扫描探针显微镜导电针尖的特征电容的方法
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| 专利类别: |
发明
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| 申请号: |
200810117014.6
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| 申请日期: |
2008-7-22
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| 授权日期: |
2010-9-29
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| 专利号: |
ZL200810117014.6
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| 第一发明人: |
戚桂村
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| 其它发明人: |
杨延莲、严昊、王琛
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| 国外申请日期: |
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| 国外申请方式: |
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| 专利授权日期: |
2010-9-29
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| 缴费情况: |
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| 实施情况: |
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| 专利证书号: |
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| 专利摘要: |
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| 其它备注: |
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当前位置：