科研成果
一种纳米线吸收谱的测量方法及系统
| 专利名称: |
一种纳米线吸收谱的测量方法及系统
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| 英文名称: |
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| 专利类别: |
发明
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| 申请号: |
CN201710873446.9
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| 申请日期: |
2017-09-25 00:00:00
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| 授权日期: |
2020-09-29 00:00:00
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| 专利号: |
ZL201710873446.9
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| 第一发明人: |
杜文娜
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| 其它发明人: |
武志勇; 时佳; 陈杰; 张帅; 米阳; 刘新风
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| 国外申请日期: |
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| 国外申请方式: |
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| 专利授权日期: |
2020-09-29 00:00:00
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| 缴费情况: |
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| 实施情况: |
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| 专利证书号: |
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| 专利摘要: |
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| 其它备注: |
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当前位置：