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科研成果

一种微区测量纳米材料光学增益系数的测量方法及测量系统装置

专利名称:

一种微区测量纳米材料光学增益系数的测量方法及测量系统装置

英文名称:

专利类别:

发明

申请号:

CN202110164408.2

申请日期:

2021-02-05 00:00:00

授权日期:

2023-07-14 00:00:00

专利号:

ZL202110164408.2

第一发明人:

刘新风

其它发明人:

杜文娜; 吴宪欣; 张帅

国外申请日期:

国外申请方式:

专利授权日期:

2023-07-14 00:00:00

缴费情况:

实施情况:

专利证书号:

专利摘要:

其它备注: